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高导热氮化硅陶瓷:原料助剂选型与电子封装基板应用

氮化硅陶瓷具有高强度、高韧性、耐腐蚀、耐高温、抗氧化、比重低和抗热震等优良性能,且理论热导率较高,被视为有潜力的高速电路和大功率器件散热封装材料。

从原料粉体选择看,氮化硅有α-Si₃N₄和β-Si₃N₄两种晶型,高温下α相为非稳定态易转化为β相。研究发现β相含量在40%至100%范围增大时热导率线性增加,高纯β相是获得高导热氮化硅的关键。以α相粉为原料,烧结中通过溶解沉淀促进α→β相变,驱动力较高;以β相为原料可得纯β相但无相变、驱动力较小,且Si₃N₄在1800℃以上易分解,多采用气压烧结提高分解温度,生产成本较高。

高导热氮化硅陶瓷:原料助剂选型与电子封装基板应用

从烧结助剂选择看,氮化硅属强共价键化合物,固相扩散难致密,须添加MgO、Al₂O₃、CaO和稀土氧化物等助剂,与粉体表面原生氧化物反应形成低熔点共晶液实现液相烧结。但助剂形成的晶界相热导率低,不利热导;常用Al₂O₃助剂在高温下与氮化硅形成SiAlON固溶体,造成晶格畸变阻碍声子传热。Y₂O₃-MgO体系是高导热氮化硅常用助剂体系,Yb₂O₃也是常见稀土助剂。非氧化物助剂是研究热点,其优势在于减少额外引入的氧、净化晶格、减少晶界玻璃相,但存在原料难得、成本高、烧结难度大等问题,目前未广泛应用于批量化制备。

从原料选择看,高导热氮化硅陶瓷的性能上限与粉体品质密切相关。高纯、细粒、低氧含量的α相氮化硅粉体有利于获得高热导率;烧结助剂体系对热导率影响明显,稀土氧化物助剂在优化晶界相组成、提高晶粒完整性方面效果较好,但助剂用量和种类需与烧结工艺匹配,过量助剂会在晶界形成富集相,阻碍热传导。

从制备工艺看,氮化硅基板多采用流延成型结合气压烧结或热压烧结制备。烧结温度在1800℃以上,通过提高温度延长保温时间促进晶粒长大,可提高热导率,但需控制晶粒尺寸与强度之间的平衡;氮气气氛压力抑制高温分解,是获得高致密度组织的关键。基板后续的研磨抛光和激光加工影响厚度均匀性与表面质量。

从应用看,高导热氮化硅基板用于IGBT、SiC功率模块和射频器件封装,在新能源汽车、光伏、轨道交通等领域需求增长。相比氮化铝,氮化硅基板强度和热循环可靠性更好,尽管热导率略低,综合性能更受高可靠应用青睐,市场渗透率正在提升。

从烧结方式看,主要有热压烧结、气压烧结、放电等离子烧结等。放电等离子烧结速度快(烧结冷却约1小时),适合快速烧结研究;气压烧结成本较低、可制备形状较复杂产品、适合批量化;热压烧结因外加机械压力大幅提高烧结驱动力,对难烧结共价化合物陶瓷是有效致密化技术。

从电子封装基板应用看,现代微电子向大规模集成化、微型化、高效率、高可靠性发展,功率密度升高导致散热需求增加,基板材料导热性能是影响散热的关键。单晶氮化硅理论热导率可达400 W/(m·K),热膨胀系数约3.0×10⁻⁶/℃,与Si、SiC和GaAs匹配良好。性能对比上,氮化硅强度600至800 MPa、断裂韧性6.0至8.0 MPa·m^(1/2)、热导率80至100 W/(m·K)、电流承载能力大于300 A;氮化铝强度350 MPa、热导率150 W/(m·K);氧化铝强度400 MPa、热导率20至30 W/(m·K)。目前研究报道中高导热氮化硅热导率较高可达177 W/(m·K),抗弯强度460 MPa、断裂韧性11.2 MPa·m^(1/2);国际上主要供应商产品热导率约90 W/(m·K),抗弯强度650 MPa、断裂韧性6.5 MPa·m^(1/2)。

散热构件的批量制造可依托液冷板配套工艺与真空钎焊炉,兼顾密封性与生产效率。

若正考虑焊接装备升级,真空钎焊炉是保障密封性与批次一致性的重点考察对象。

选型时建议重点关注设备温场均匀性,它直接影响制品的一致性与成品率。

真空度稳定性直接影响界面结合质量与缺陷率,是设备选型的核心指标之一。

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